環(huán)境類可靠性試驗設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準闡述，恒溫恒濕試驗箱 ，鹽霧測試機，冷熱沖擊試驗箱
一、概況

環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準。 
我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準（以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準（以下簡稱“方法標(biāo)準”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.

二、環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準共有九項： 
GB10586-89 濕熱試驗箱 技術(shù)條件 
GB10587-89 鹽霧試驗箱 技術(shù)條件 
GB10588-89 長霉試驗箱 技術(shù)條件 
GB10589-89 低溫試驗箱 技術(shù)條件 
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
GB10592-89 高、低溫試驗箱 技術(shù)條件 
GB11158-89 高溫試驗箱 技術(shù)條件 
GB11159-89 低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
2、設(shè)備標(biāo)準中的共性問題 
1）適用范圍 
在上述的九項標(biāo)準中都明確規(guī)定了本標(biāo)準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。 
2）適應(yīng)性 
按設(shè)備標(biāo)準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 
3）操作性 
設(shè)備標(biāo)準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標(biāo)準在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。 
4）修訂設(shè)備標(biāo)準的不足之處 
九項設(shè)備標(biāo)準起草于上世紀八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項 
1）對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項 
A）溫度：15℃~35℃ 
B）相對濕度：不大于85%RH 
C）大氣壓強：86Kpa~106Kpa 
D）熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射 
E）氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上 
F）電磁場：無強烈電磁場 
G）三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) 
H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa 
I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm 
J）電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz 
2）負載要求： 
A）負載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗除外） 
B）負載條件： 
-------負載總質(zhì)量：50~80Kg/m3 
-------負載總體積：不大于工作室容積的1/5 
-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3 
-------鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm 
-------種類：金屬 
-------樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計）

三、 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準（氣候試驗設(shè)備） 
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準共有六項： 
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備 
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備 
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備 
2、方法標(biāo)準的幾個共同問題 
1）標(biāo)準適用范圍：在六項方法標(biāo)準中明確規(guī)定了該類標(biāo)準是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 
2）適應(yīng)性：按方法標(biāo)準檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。 
3）操作性：本類標(biāo)準在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點： 
1）各分標(biāo)準使用時應(yīng)與總則一起使用。 
2）對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準及總則一起使用 
3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準相一致。 
4）負載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準GB11158中規(guī)定保持一致。 
 
四、設(shè)備標(biāo)準與檢定方法標(biāo)準差異辨析

對照內(nèi)容 設(shè)備標(biāo)準 方法標(biāo)準 
適用范圍 產(chǎn)品的出廠檢驗及型式檢驗與質(zhì)量監(jiān)督檢驗 試驗設(shè)備的周期檢定 
環(huán)境條件  
具有一致性 
負載條件 有三項要求（鹽霧試驗箱例外） 按設(shè)備標(biāo)準GB11158中的規(guī)定 
檢驗項目 對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進行綜合性能檢驗（包括標(biāo)志、包裝、儲存） 按試驗方法要求對試驗設(shè)備進行檢驗 
受檢對象 生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品 外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常 
檢驗類型 型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢驗 周期檢驗 
檢驗結(jié)果分類 合格、不合格、批合格、批不合格 合格、準用、停用 
結(jié)果處理 合格出廠、不合格不準出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓 合格—發(fā)合格證（或部分合格限使用范圍）
準用—發(fā)準用證
停用—發(fā)停用證

五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準與試驗方法標(biāo)準的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準是一種產(chǎn)品標(biāo)準對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準。
2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準對試驗設(shè)備進行檢定。
3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準

 
試驗方法標(biāo)準  
檢定方法標(biāo)準 
代號 名稱 代號 名稱 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A：低溫 GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B：高溫 
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法 
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca：恒定濕熱 GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱 
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱 
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J：長霉 
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧 GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb：交變鹽霧 
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗 GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗設(shè)備 
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法